三菱Q170MCPU手冊Q170MCPU編程手冊

輸入電壓范圍：DC24V。
輸出電壓：DC5V。
輸出電源：8.5A。
簡(jiǎn)化程序調試
可使用帶執行條件的軟元件測試功能，在程序上的任意步，
將軟元件值更改為用戶(hù)指定值。
以往在調試特定回路程序段時(shí)，需要追加設定軟元件的程序，
而目前通過(guò)使用本功能，無(wú)需更改程序，即可使特定的回路程序段單獨執行動(dòng)作。
因此，不需要單獨為了調試而更改程序，調試操作更簡(jiǎn)單Q170MCPU
自動(dòng)備份關(guān)鍵數據
將程序和參數文件自動(dòng)保存到無(wú)需使用備份電池的程序存儲器（Flash ROM）中，
以防因忘記更換電池而導致程序和參數丟失。
此外，還可將軟元件數據等重要數據備份到標準ROM，
以避免在長(cháng)假期間等計劃性停機時(shí)，
這些數據因電池電量耗盡而丟失。
下次打開(kāi)電源時(shí)，備份的數據將自動(dòng)恢復。
通過(guò)軟元件擴展，更方便創(chuàng )建程序。
位軟元件的M軟元件和B軟元件最多可擴展到60K點(diǎn)，使程序更容易理解。輸入輸出點(diǎn)數：512點(diǎn)。
輸入輸出數據設備點(diǎn)數：8192點(diǎn)。
程序容量：28k。
基本命令處理速度(LD命令)：0.2μS。
指令執行所需的時(shí)間和用戶(hù)程序的長(cháng)短、指令的種類(lèi)和CPU執行速度是有很大關(guān)系，
一般來(lái)說(shuō)，一個(gè)掃描的過(guò)程中，故障診斷時(shí)間，
通信時(shí)間，輸入采樣和輸出刷新所占的時(shí)間較少，
執行的時(shí)間是占了絕大部分。
光電耦合器由兩個(gè)發(fā)光二極度管和光電三極管組成。
發(fā)光二級管：在光電耦合器的輸入端加上變化的電信號，
發(fā)光二極管就產(chǎn)生與輸入信號變化規律相同的光信號。
輸入接口電路工作過(guò)程：當開(kāi)關(guān)合上，二極管發(fā)光，
然后三極管在光的照射下導通，向內部電路輸入信號。
當開(kāi)關(guān)斷開(kāi)，二極管不發(fā)光，三極管不導通。向內部電路輸入信號。
也就是通過(guò)輸入接口電路把外部的開(kāi)關(guān)信號轉化成PLC內部所能接受的數字信號。
光電三級管：在光信號的照射下導通，導通程度與光信號的強弱有關(guān)。
在光電耦合器的線(xiàn)性工作區內，輸出信號與輸入信號有線(xiàn)性關(guān)系。
用戶(hù)程序存儲容量：是衡量可存儲用戶(hù)應用程序多少的指標。
通常以字或K字為單位。16位二進(jìn)制數為一個(gè)字，
每1024個(gè)字為1K字。PLC以字為單位存儲指令和數據。
一般的邏輯操作指令每條占1個(gè)字。定時(shí)/計數，
移位指令占2個(gè)字。數據操作指令占2~4個(gè)字。
輸出點(diǎn)數：64點(diǎn)。
輸出電壓及電流：DC5～24V 0.2A/1點(diǎn)。
2A/1公共端。
OFF時(shí)漏電流：0.1mA。
應答時(shí)間：1ms。
32點(diǎn)1個(gè)公共端。
漏型。
40針連接器。
帶熱防護。
帶短路保護。
帶浪涌吸收器。
超高速處理，生產(chǎn)時(shí)間縮短，更好的性能。
隨著(zhù)應用程序變得更大更復雜，縮短系統運行周期時(shí)間是非常必要的。
通過(guò)超高的基本運算處理速度1.9ns，可縮短運行周期。
除了可以實(shí)現以往與單片機控制相聯(lián)系的高速控制以外，
還可通過(guò)減少總掃描時(shí)間，提高系統性能，
防止任何可能出現的性能偏差。
方便處理大容量數據。
以往無(wú)法實(shí)現標準RAM和SRAM卡文件寄存器區域的連續存取，
在編程時(shí)需要考慮各區域的邊界。
在高速通用型QCPU中安裝了8MB SRAM擴展卡，
可將標準RAM作為一個(gè)連續的文件寄存器，
容量最多可達4736K字，從而簡(jiǎn)化了編程。
因此，即使軟元件存儲器空間不足，
也可通過(guò)安裝擴展SRAM卡，方便地擴展文件寄存器區域。
變址寄存器擴展到了32位，從而使編程也可超越了傳統的32K字，
并實(shí)現變址修飾擴展到文件寄存器的所有區域。
另外，變址修飾的處理速度對結構化數據（陣列）的高效運算起著(zhù)重要作用，
該速度現已得到提高。
當變址修飾用于反復處理程序（例如從FOR到NEXT的指令等）中時(shí)，可縮短掃描時(shí)間。
借助采樣跟蹤功能縮短啟動(dòng)時(shí)間
利用采樣跟蹤功能，方便分析發(fā)生故障時(shí)的數據，
檢驗程序調試的時(shí)間等，可縮短設備故障分析時(shí)間和啟動(dòng)時(shí)間。。
此外，在多CPU系統中也有助于確定CPU模塊之間的數據收發(fā)時(shí)間。
可用編程工具對收集的數據進(jìn)行分分析，
并以圖表和趨勢圖的形式方便地顯示位軟元件和字軟元件的數據變化。
并且,可將采樣跟蹤結果以GX LogViewer形式的CSV進(jìn)行保存，
通過(guò)記錄數據顯示、分析工具GX LogViewer進(jìn)行顯示。